Atomic Force Microscopy
| System | Q-Scope 250 (Fa. Quesant) |
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| Technische Parameter | - Messkopf 40 Mikrometer (x-, y-Richtung), z-Richtung max. 4 Mikrometer - Akustik- und Vibrationsisolierkammer - Heiztisch (max. 250°C) - Messung im Contact oder Intermittend Mode - Standardcantilever für Intermittend Mode: Resonanzfrequenz 190 kHz, Steifigkeit 48 N/m -Weitere Cantilever: Resonanzfrequenz 300 kHz, Steifigkeit 40 N/m Resonanzfrequenz 190 kHz, Steifigkeit 5 N/m, Ultra Sharp |
| Anwendung | - Morphologiecharakterisierung von Kunststoff- und Kautschukblends, sowie Thermoplastischen Elastomeren - Charakterisierung der Kristallitgestalt von teilkristallinen Kunststoffen - Charakterisierung der Mikrodispersion von Füllstoffen (Ruß, Silica, Carbon Nano Tubes u.a.) - Charakterisierung der Rauheit von Bruchoberflächen - Charakterisierung von Oberflächenbeschichtungen |
| System | Universal Scanning Probe Microscope (Fa. Ambios) |
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| Technische Parameter | - Messkopf 5 Mikrometer (x-, y-Richtung), z-Richtung max. 2 Mikrometer - Akustik- und Vibrationsisolierkammer - Messung im Contact oder Intermittend Mode - Standardcantilever für Intermittend Mode: Resonanzfrequenz 190 kHz, Steifigkeit 48 N/m -Weitere Cantilever: Resonanzfrequenz 300 kHz, Steifigkeit 40 N/m Resonanzfrequenz 190 kHz, Steifigkeit 5 N/m, Ultra Sharp |
| Anwendung | Hochauflösende Morphologiecharakterisierung |